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QUANTIFOIL®
High Magnification, High Resolution Calibration Reference and Traceable Standard for SEM, AFM, Auger, and FIB
Planotec Silicon Test Specimen -
Low-Mag Calibration Ruler
Grating Replica, Waffle -
Agar Copper Mesh
![]() See information on mounts A-P |
Planotec Silicon Test SpecimenUseful for magnification calibration or image distortion check in SEM and LM.Single crystal silicon, 5mm x 5mm. The squares repeat every 10µm (0.01mm). The dividing lines are about 1.9µm wide, formed by electron beam lithography. A broader marking line is written every 500µm (0.5mm) which is useful for light microscopy. Lines are etched, and approximately 300nm deep. Available unmounted or mounted on SEM specimen mounts. |
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Many types of samples can be mounted directly onto the Silicon Test Specimen so that an internal calibration is obtained in the image.
Thickness: 675µm To avoid contamination of test and calibration samples, we recommend storing these under vacuum. For the standard SEM pin mounts, the #16179 PELCO® SEM Sample Stub Vacuum Desiccator would be ideal.
A certificate of calibration can be supplied for the Silicon Test Specimen at extra
cost. The guaranteed accuracy is 1%. The basic reference specimen is calibrated by the
National Physical Laboratory, of England, by laser beam interferometry.
Planotec Silicon Test Specimens with calibration certificate for mounted test specimens only
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Low-Mag Calibration Ruler100 markings, divisions 0.01mm on disc
Calibration ruler on 1/8" (3.2mm) nickel-plated copper disc.
1mm long scale with 100 markings, with 0.01mm divisions with an
accuracy of +/- 0.0005mm or better. Available unmounted, or mounted on SEM mounts.
see information on mounts A-P |
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Grating Replica, Waffle(Crossed-Lines)Carbon replica with Au/Pd shadowing prepared on a mount of your choice and carefully packaged. 2,160 lines per millimeter. See our number 252 Magnification Calibration slide-rule for quick assistance in obtaining magnification based on space counts of this product. Available as unmounted standard or mounted on a SEM mount. |
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PELCO® Technical Notes,
SEM Magnification Calibration Diffraction Grating Replica (PDF 712KB)
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Fine Copper Mesh on Folding Grids (unmounted)For low magnification calibration of scanning electron microscopes and the low magnification range of transmission electron microscopes. The fine mesh is held within a folding grid.Available with 1000 mesh (25µm pitch) and 2000 mesh (12.5µm pitch). |
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